Discuter:Microscopie électronique à balayage

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Sommaire

[modifier] Qui est le père de la microscopie électronique à balayage ?

Je reproduis d'abord l'échange que j'ai eu avec Steff à propos de l'article Max Knoll

Bonsoir EDC,
j'ai vu que vous êtes intervenu sur l'article sur Max Knoll en précisant que lui et Ruska avaient inventé le MET. J'ai créé cet article sur ce physicien car je m'occupe de l'article Microscopie électronique à balayage et j'essaie de combler quelques liens rouges. Je sais (en gros) me servir d'un MEB mais j'avoue ne rien connaître sur l'histoire de ce microscope et donc je me base sur différentes sources que j'ai trouvées sur le net. Ces sources semblent s'accorder sur le fait que c'est Max Knoll qui en a créé le principe : voir ce site avec Knoll, the co-inventor of the TEM with Ruska, was the first to publish images from solid samples obtained by scanning an electron beam (Knoll 1935) puis celui la avec The earliest known work describing the concept of a Scanning Electron Microscope was by M. Knoll (1935) et enfin ce site avec Ce qui nous concerne plus directement dans le présent volume, c'est le travail poursuivi dans une autre pièce par Max Knoll et Manfred von Ardenne. Ils y conçoivent et réalisent le prototype du microscope électronique à balayage. Voila ce que j'ai trouvé concernant le MEB... que dit votre livre The Early Development of Electron Lenses ans Electron Microscopy ?
Merci. Stéphane 1 janvier 2006 à 23:06 (CET)
Toutes les sources que vous citez sont tout à fait sérieuses (ce sont de vraies publications), et en accord avec le bouquin que j'avais mis en référence, mais que j'avais mal lu, autant pour moi. J'ai eu raison, cependant de remplacer balayage par transmission chaque fois que Knoll est associé à Ruska, mais à partir de 1935, il apparait que Knoll travaille effectivement sur un projet que l'on peut considérer comme l'ancêtre de la microscopie à balayage. EdC 2 janvier 2006 à 00:18 (CET)

Question délicate que celle de décider qui est le "père" d'une invention qui est dans l'air du temps ? Comme il s'agit d'instrumentation, j'aurais tendance à répondre qu'il faut donner la première lace à celui qui a obtenu des résultats qui ont donné à l'instrument une place dans l'histoire. Von Ardenne et Oatley, donc, plutôt que Knoll dont l'Electron Beam Scanner ne se veut pas un microscope et son principe a été antériorisé (par exemple, par Stinzing). A mon avis, dans l' article, McMullan met Knoll en avant pour mieux noyer ses prédécesseurs (de McMullan) que sont Von Ardenne et Zworykin. --EdC 3 janvier 2006 à 00:13 (CET)

Est-ce bien utile de dire qui est l'unique "père" de cet instrument (la question de posera surement aussi pour le MET) ? Pour ne vexer aucun de ces messieurs, il serait peut être mieux de ne citer personne en tant qu'inventeur "officiel"... mais de préciser justement qui a mis au point la théorie, mis au point le premier instrument ou qui a obtenu la première image. Stéphane 3 janvier 2006 à 01:00 (CET)
je suis d'accord, bien sûr. Mais de fait, si l'on choisit de mettre une ou plusieurs photos, on suggère une présomption de légitimité en faveur de ceux dont on a mis la photo. Or actuellement la photo de Knoll suggère que le grand monsieur du SEM, c'est Knoll, ce qui ne me semble pas reconnu par les microscopistes à balayage. A mon avis, les photos de Von Ardenne et Oatley seraient plus pertinentes. --EdC 3 janvier 2006 à 08:20 (CET)
J'avais mis la photo de Knoll avant de me rendre compte que cette histoire de paternité n'était pas aussi simple que ça. Je vais essayer de trouver d'autres bouquins pour établir clairement qui a fait quoi dans l'histoire du MEB... et ensuite on pourrait modifier les photos. Il faudrait peut être se limiter à un ou deux portraits... si on veut mettre tout le monde, ça risque de faire surchargé. Stéphane 3 janvier 2006 à 17:59 (CET)
Bon, tout ça n'est pas bien grave. Si tu laisse la photo de Knoll, je n'en ferai pas une maladie. Je pinaille, car il se trouve que je m'intéresse au sujet en ce moment. A mon avis, les sites que tu as déjà visités sont bien assez riches pour donner une bonne idée de la question. --EdC 3 janvier 2006 à 20:46 (CET)


Message copié depuis ma page de discussion et consercant le MEB. Stéphane 28 janvier 2006 à 12:47 (CET)

Bonjour, Steff, Bravo pour le patient enrichissement de l'article "MEB". Je traduirais "electron beam scanner", au choix, par "scanner à faisceau d'électrons" ou "appareil à balayage de faisceau d'électrons". Il me semble qu'effet de relief remplacerait avantageusement 3D, trop connoté imagerie artificielle. L'articulation Knoll-Von Ardenne-Zworykin-Oatley me parait tout à fait correcte, mais je conteste toujours un peu la mention faite au seul Knoll dans l'en-tête. Il n'y a pas de nécessité à désigner un inventeur unique. On peut tout simplement dire "au milieu du XXeme siècle", ou bien citer quelques personnes, par hasard. Une dernière chose: Avais-tu l'intention de citer Everhart-Thornley pour leur détecteur, en 1960 ? Je crois que leur détecteur a sa part dans le triomphe des SEM à partir de 65.

Oui, j'ai l'intention de parler du détecteur de Everhart-Thornley dans le paragraphe sur l'imagerie en électrons secondaires et éventuellement le mentionner dans le partie "Histoire" (qui n'est pas encore finie). Stéphane 29 janvier 2006 à 14:21 (CET)

[modifier] encombrement, consommation

Bonsoir,

J'y connais rien, mais en parcourant l'article je me suis posé cette question :

est-ce que tu pourrais en ramener un chez toi à la maison et le faire marcher ?

Càd est-ce que l'encombrement des MEB actuels et leur consommation électrique sont devenus "faibles" ou bien est-ce encore monstrueux ?

Cf analogie avec les premiers ordinateurs (ENIAC) qui avaient besoin d'un immeuble entier et d'une centrale électrique pour fonctionner, alors que maintenant les ordinateurs de bureau ou pour la maison consomment qq centaines de watts et les serveurs d'entreprise environ un millier.

D'ailleurs si c'était le cas par le passé, et que des ancêtres célèbres sont citables, ça serait bien de l'ajouter, en direct ou sous forme d'article séparé (si c'est pas déjà fait).

Bon courage pour la continuation de cet article !

— Boism 23 février 2006 à 01:44 (CET)

Si tu avais des sous (beaucoup), de la place (une grande pièce) et des connaissances en microscopie (pas mal aussi, c'est pas simple un MEB !) alors je ne vois pas ce qui t'empêcherait d'en acheter un pour chez toi ! Je me rends compte, d'après ton commentaire, que la photo de l'article n'est pas très explicite. Un MEB n'est pas juste le bidule blanc qu'on voit sur la photo, il y a à coté tout le sytème informatique pour gérer la machine (maintenant tout se fait par informatique et en un coup de souris mais eu je le "plaisir" d'utiliser un ancien MEB une fois et il faut cliquer, enfoncer, tourner pas mal de boutons pour obtenir une image de bonne qualité). De plus derrière se trouve généralement tout le sytème de pompe + l'alimentation + souvent un système de climatisation dans la pièce où on l'utilise. Je vais essayer de prendre d'autres photos un peu plus larges pour mieux rendre compte de la taille de l'appareil.
La partie histoire n'est pas encore finie mais je pense que oui, la taille des MEB a diminué depuis le premier créé mais pas dans les mêmes proportions que pour les ordinateurs. On est passé, en 60 ans, de l'ENIAC à l'IPod... je ne pense pas qu'un jour un MEB tiendra dans la poche ! La miniaturisation doit être plutot équivalente au passage d'un armoire à une gros bureau ou qqch de ce genre.
Pour finir, merci à toi d'avoir pris le temps de lire cet article... et d'avoir pointé des problèmes dont j'avais même pas conscience... :-) Stéphane 23 février 2006 à 11:15 (CET)
D'autant plus j'ai entendu dire qu'il faut de temps en temps refroidire le MEB avec de l'azote liquide (-80°C) pour ne pas perdre l'appareil. - pixeltoo 9 mai 2006 à 23:13 (CEST)

[modifier] préparation

Concernant la préparation MEB/MET, pouvez-vous donner plus de détails (ou faire une ou plusieurs pages dédiées) ?

Les questions que je me pose :

  • appliquer une couche conductrice : est-ce que cela ne va pas fausser la surface à étudier (exemple : pour la fourmi, ça pourrait plaquer les poils le long de son squelette) ? De même, cette surcouche pourrait masquer des détails (comme de la peinture sur une petite fissure) Comment s'en assurer ?
  • comment s'assurer qu'il n'y a pas de poussière, comment les évacuer ? Au besoin faire plusieurs mesures jusqu'à obtenir une image parfaite (un peu comme en photographie traditionnelle si on a un bougé) ?
  • pour le MET : comment découper des échantillons aussi fins ? (et problème de la poussière)

— Boism 23 février 2006 à 02:00 (CET)

Effectivement toutes ces questions méritent une réponse dans l'article. La partie "préparation des échantillons" est en chantier (un chantier qui tourne au ralenti certes mais un chantier tout de meme :) et je compte bien m'y remettre. Pour tout ce qui est réparation d'échantillons biologiques, je suis en train de chercher sur Wiki des contributeurs qui s'y connaitraient un peu plus que moi (la bio, c'est pas du tout mon domaine). Mais pour répondre à tes questions, d'après mes connaissance (et mes bouquis surtout) :
  • Appliquer une couche conductrice, sur une fourmi par exemple, ce n'est pas comme appliquer une couche de peinture sur une fourmi... ou la fourni se retrouve noyée dans la peinture et on finit par avoir juste "un gros tas". D'après ce que j'ai pu trouvé, la taille de cette couche est de l'ordre de quelques nanomètres (moins d'un centaine) suivant les procédés... certains procédés pouvant descendre jusqu'à 1 nm. A cette échelle là, le poil de la fourmi apparait gigantesque et ne risque pas d'être mouillé ou courbé comme il le serait avec de l'eau par exemple.
  • La proprété des echantillons est un gros soucis effectivement. Les mains les plus propres du monde contiennent toujours de la graisse et un tas d'autres saletés qui pourraient polluer l'échantillon. Le port de gant est la moindre des précautions à prendre mais il existe un tas de "techniques de laboratoire" pour nettoyer un échantillon : lavage à l'eau tout bête, rinçage avec des solvants plus ou moins puissants, ... Toutes les "saletés" qui restent sur l'échantillon ont de fortes chances de s'évaporer dans le chambre d'observation du microscope... et donc de la polluer ! La préparation de l'échantillon conditionne absoument l'obtention de bons clichés.
  • Pour le MET (dont l'article est encore moins avancé que celui sur le MEB), il existe des techniques de préparations des échantillons : polissage, électropolissage (sorte de dissolution des métaux... un peu analogue à la fonte d'un glaçon, quand celui-ci est presque fondu, il y a des endroits où la glace, avant de rompre, est extrêmement fine comme par exemple, les bords d'un trou ou un pont de plus en plus fin qui relie deux morceaux plus massifs), amincissement ionique (des ions, souvent d'argons, sont projetés sur l'échantillon et viennent le "creuser"... sur les bords de ce trou, l'épaisseur du matériaux peut être réduites à quelques nanomètres).
Quand je m'occuperais un peu plus sérieusement de l'article MET, je décrirais plus en détails ces techniques... à moins qu'une âme charitable ne prenne cet article en main ! :-) Stéphane 23 février 2006 à 11:44 (CET)

[modifier] application : construire atome par atome

Il me semble avoir lu qu'on s'était servi de ME (B ou plutôt T ???) pour positionner très précisément des atomes.

J'ai en mémoire une photo d'une puce (?) où était écrit IBM (?) atome par atome.

Ça vous parle ? Vous pouvez le rajouter dans l'article qui va bien ?

Bon, j'arrête le flot de questions là ! ;-)

— Boism 23 février 2006 à 02:03 (CET)

C'est possible avec un correcteur d'aberration sphérique (développé en 1995, à IBM, effectivement), comme il est décrit sur le très bon site français cemes.--EdC 23 février 2006 à 08:06 (CET)
La photo en question doit être celle-ci je suppose ? Dans ce cas, le microscope utilisé était un Microscope à effet tunnel... et effectivement avec ce genre de microscope, dont le principe est totalement différent du MEB ou du MET... on peut presque jouer aux billes avec les atomes ! Ce fameux IBM ecrit avec de atomes de Xénon aurait donc plus sa place dans l'article Microscope à effet tunnel quand dans celui sur le MEB ou le MET.


Merci pour toutes ces réponses qui ont bien éclairé ma lanterne ! Je me coucherai moins bête ce soir ! ;-) Bon courage pour la continuation de ces articles ! — Boism 23 février 2006 à 22:15 (CET)


[modifier] A propos de Jeol et des insertions publicitaires

J'ai vu qu'il y avait une petite guerre d'édition qui commençait entre une IP, apparemment proche des services commerciaux de Jeol, puisqu'elle allait jusqu'à introduire un numéro de téléphone dans l'article, et Guillom, vigilantà l'égard de ce genre de pratiques. J'espère que tout le monde sera d'accord pour accepter des liens externes vers des pages de constructeurs, s'ils apportent quelque chose à l'article. J'ai donc remis en lien une page Jeol, mais pas la même, avec des animations que je trouve intéressantes. je précise que je n'ai aucune accointance avec Jeol, je dirais, bien au contraire. --EdC 3 mars 2006 à 08:29 (CET)

Ça me convient :) Guillom 3 mars 2006 à 08:31 (CET)
Effectivement, une IP a à plusieurs reprises mis le lien et le numéro de téléphone de JEOL France sur plusieurs articles (Microscopie électronique à balayage, Spectrométrie de fluorescence X, Microscopie électronique en transmission). On ne peut pas dire que c'est de la pub (ça ne va pas je pense insiter les lecteurs à acheter un microscope) mais ça resemble tout de même à du spam et ça surcharge surtout les références pour rien. Un lien vers la page technique d'un MEB sur l'article MEB et qui pointe vers une page précise (en gros, un lien utile) apporte dans ce cas une infos et mérite (je pense) de rester dans l'article. Stéphane 3 mars 2006 à 08:37 (CET)

[modifier] Problème avec Image:Canon.svg

J'ai un problème avec cette illustration Image:Canon.svg. La schéma qui apparait dans le texte n'est pas le même que celui qui apparait sur la page [1]... qui n'est non plus pas le même que le fichier original que j'ai créé. J'ai purgé le cache, rechargé l'image... et le résultats est le même (ce schéma devrait être légendé normalement). Est-ce que ça vient du format .svg (je ne l'avais jamais utilisé avant) ? Est-ce que quelqu'un a une idée ? Stéphane 7 mars 2006 à 10:42 (CET)

Moi pas connaitre format .svg, mais ce qui est sûr, c'est que cette image, hélas buggée, est beaucoup mieux que la figure de l'article "canon à électrons"--EdC 7 mars 2006 à 11:00 (CET)
Je viens de refaire un schéma en format SVG Image:Interaction.svg... et encore une fois, ce que je vois sur mon écran avant de charger le fichier ne ressemble pas à ce qui s'affiche dans l'article. Les légendes n'apparaissent pas et certaines flèches n'ont pas la même forme. Si quelqu'un sait ou se trouve le problème, qu'il n'hésite pas à me le dire. Stéphane 7 mars 2006 à 22:00 (CET)
J'ai déjà rencontré ce genre de problèmes. Je m'en occupe dès que j'ai le temps. Guillom 7 mars 2006 à 22:07 (CET)
Ah bon... si apparement tu connais une solution alors tant mieux. Je ne savais pas si ça venait d'un bug de Wikipédia qui n'arrive pas à lire ce format SVG ou alors de ma version d'Inkscape qui "fabrique" un fichier buggé. D'avance, merci si tu arrives à résoudre le problème. Stéphane 7 mars 2006 à 22:15 (CET)
J'ai réussi à remettre le texte sur Image:Canon.svg et Image:Interaction.svg avec la manip suivante : Texte > Unflow puis en remettant une taille de police adéquate. Cela m'est souvent arrivé, je l'attribue à un problème de compatibilité entre les versions d'Inkscape et de MediaWiki. Pour les flèches, pas de solution pour le moment :/ Je ne suis pas sûr de passer sur cette page régulièrement, alors n'hésite pas à me demander de l'aide sur ma page de discussion, Stéphane. Guillom 7 mars 2006 à 22:29 (CET)

[modifier] Chambre d'observation et nouveau plan

Il y a une nouvelle illustration sur la chambre d'observation dans l'article en:Scanning electron microscope. Je l'ai récupérée, mise sur Commons et ajoutée à l'article... y a plus qu'à rédiger le paragraphe maintenant !

Sinon, le nouveau plan de l'article me chiffonne un peu. En l'état, le paragraphe Microscopie électronique à balayage#L'interaction électron-matière arrive après Microscopie électronique à balayage#Le détecteur d'électrons secondaires (détecteurs Everhart-Thornley) alors que pour comprendre le fonctionnement de ce détecteur, il fait un minimum savoir ce que sont les intéractions électrons-matière. Il faudra peut-être remodifier l'ordre de certains paragraphes. Stéphane 7 mars 2006 à 22:40 (CET)

Est-ce que finalement, il ne faudrait pas mettre carrément avant l'instrumentation, l'interaction "éléectron-matière" ? Pour la chambre d'observation, celle-ci est très dépendante des applications, et finalement, c'est là la faiblesse de l'article, l'absence d'un paragraphe présentant globalement les applications principales. Je n'ai pas de bouquin récent sur le SEM qui ferait cette présentation. --EdC 8 mars 2006 à 07:52 (CET)
C'est le même problème pour tous les articles "techniques". Il faut essayer de couvrir tous les domaines et satisfaire la curiosité de tous les lecteurs. Ceux qui s'y connaissent en MEB veulent des chiffres, des équations, infos techniques, poussées et ceux-ci qui n'y connaissent rien du tout mais sont curieux veulent avant tout savoir : Qu'est ce que c'est ? A quoi ca ressemble ? A quoi ça sert ? Et c'est vrai que le à quoi ça sert un MEB ? manque à l'article. On pourrait commencer l'article par un paragraphe Microscopie électronique à balayage#Présentation d'introduction qui résumerait les avantages d'un MEB, les domaines d'utilisation, les résultats qu'on peut en tirer et qui serait organisé de telle façon qu'il laisse deviner la suite du plan de l'article.
Quant à la chambre d'observation, c'est vrai qu'elle risque fort d'être différente si on on travaille en vide poussé ou si c'est MEB environnemental mais il faudrait de donner une descritpion globale en mentionnant quelques unes des particularités.
Sinon, je pense qu'il manque aussi une partie sur la formation des images. Aucun moment on ne parle clairement de ce qu'on "voit" quand on observe quelque chose au MEB et quelqu'un qui ne s'y connait pas pourrait très bien penser qu'on regarde à travers un occulaire !
Bon... y a encore du boulot ! Stéphane 8 mars 2006 à 09:26 (CET)
PS:Merci EdC pour les ajouts, merci Guillon pour les images.
Effectivement, il manque une introduction sur le principe même du balayage. Ce ne sera pas trop difficile à faire, mais nécessitera quand même un schéma. Par contre, je ne sais pas où trouver des informations de préférences récentes sur les différents domaines d'application. Je connais un peu les applications pour les semiconducteurs, recherche et contrôle dimensionnel en fab, mais je n'ai aucune idée précise sur les applications en biologie et dans les autres domaines. --EdC 12 mars 2006 à 23:15 (CET)

[modifier] Interêt du paragraphe Préparation des échantillons

Je me pose des question sur l'interêt et la pertinence de ce paragraphe. Ces préparation sont des techniques de laboratoire utilisées en microscopie à balayage certes... mais est-ce que ça a sa place dans un article général sur le MEB ? Il ne faudrait pas que ce paragraphe ressemble trop à un guide de préparation des échantillons. Quelqu'un a un avis ? Stéphane 2 avril 2006 à 14:35 (CEST)

J'ai du mal à me faire une opinion sur la diffusion des MEB en biologie. J'aurais tendance à penser qu'elle y est marginale, que les biologistes utilisent davantage des TEM, pour dire les choses en français, et que par conséquent le gonflement du paragraphe sur le préparation des échantillons biologiques est exagérée dans l'article MEB. Je serais donc favorable à un article séparé "préparation des échantillons biologiques en microscope électronique, et de faire un paragraphe très succinct dans l'articles sur les MEB, juste pour dire que dans le cas général, on métallise les échantillons et que pour les échantillons biologiques, c'est un peu plus compliqué. pour les TEM, il faudrait aussi créer un article "préparation des échantillons par FIB" qui est devenue une discipline à part entière. --EdC 2 avril 2006 à 21:30 (CEST)

[modifier] Article de qualite

Dans son domaine, je ne vois pas trop ce qui peut surpasser cet article. Bravo aux contributeurs. patapiou (Discuter) 21 juin 2006 à 19:03 (CEST)

Alors, Stef, tu te lances ? --EdC / Contact 21 juin 2006 à 23:28 (CEST)

[modifier] canon electron SEM

Bonjour Il est mentionne dans l'article: Il existe 2 familles de canon à électrons selon le principe utilisé pour extraire les électrons.

L'émission thermoïonique, appelé aussi effet Schottky, avec les filaments de tungstène et pointes LaB6 L'émission par effet de champ

L'emission thermoionique (ou plus precisement thermoelectronique car ce sont des electrons qui sont emis et non des ions) n'est pas un processus schottky. Par l'elevation de temperature, les electrons sont amenes au niveau d'energie du vide, dans un conducteur la difference entre le 0ev et le niveau de Fermi (4,5eV pour le W 2,8eV pour le LaB6) puis acceleres par -HT. L'effet Schottky utilise dans les TFE consiste dans un premier temps a abaisser la bariere de potentiel c a d la difference entre niveau de Fermi et vide, par diffusion de ZrO vers la pointe en la chauffant puis un potentiel sur l'anode extractrice afin de provoquer l'effet tunnel. De plus une grille aditionnelle (wehnelt) est ajoutée afin de supprimer les electrons thermiques dus a l'emission thermoelectronique. du fait de l'elevation de temperature, l'agitation thermique est plus importante que dans le CFE et donc le "beam spreading" c a d la monochromacite plus large donc augmentation des aberrations chromatiques. En contrepartie technologie du vide moins poussee et meilleures stabilite et courrant de faisceau + important. Sinon article tres complet et tres bien documente, ma position dans le milieu m'interdit d'y repondre directement amicalement Jacky

Merci pour ces remarques, Jacky. Je vais supprimer l'équivalence Thermoïonique=Schottky dans cet article. Par contre, la tâche est moins aisée dans l'article canon à électrons qui, lui, se devrait d'âtre plus précis et plus rigoureux. On pourra y faire mention de la correction Schottky dans le calcul de l'émission d'un canon "thermoïonique". J'ai toujours été surpris, effectivement de l'usage de ce terme, très répandu, au dépens de "Thermoélectronique". Les coupables sont sans doute nos amis anglophones qui ont réussi à nous intoxiquer. Votre contribution, par exemple sous un pseudo judicieusement choisi, serait naturellement bienvenue, par exemple, pour l'article Microsonde de Castaing qui aurait bien besoin de votre compétence. --EdC / Contact 30 juin 2006 à 09:06 (CEST)

Bonsoir En effet je crois me rapeller que dans certains tubes electroniques on utilisait des cathodes au Baryum ou au Cerium en chauffage direct ou indirect, pour peut etre faire baisser le travail de sortie par effet schottky , et augmenter le debit electronique. Mais a ma connaissance, ceci n'a jamais ete utilise dans les SEM ou TEM Amicalement Jacky

Pour chercher à vous enrôler dans wikipedia, j'ai cherché à vous joindre sur votre adresse professionelle, telle qu'elle figure sur votre page personnelle, mais il semble que l'adresse ne soit plus valable. Peut-être pouvez-vous me contacter ? --EdC / Contact 1 juillet 2006 à 15:41 (CEST)

[modifier] Wrong picture

The SEM scheme in the picture has a mistake: the Objectif is not in that place! The objective lens must be under the coils (Bobines). --83.191.180.249 17 février 2007 à 19:36 (CET)

There are actually 3 images with SEM schemes in this article, and I do not see any with the objective under the coils. Which picture do you mean exactly ? --EdC / Contact 17 février 2007 à 22:07 (CET)

[modifier] Bandeau Bon article

Il semblerait que cet article soit reconnu comme un Bon Article ce qui est tout à fait normal vu le contenu important d'informations contenu dans cet article. Quelqu'un pourrait il apposer le bandeau Bon Article ? Ne pourrait on pas non plus envisager de classer cet article comme Article de Qualité ? Quel travail reste-t'il à faire, je connais pas grand chose au sujet. Pamputt [Discuter] 11 juin 2007 à 00:29 (CEST)

Cet article n'est pas mauvais, certes, mais il n'a pas encore passé son examen de "Bon article". Je viens de le parcourir et, mystère de la technique, l'image "Electron secondaire.jpg" ne veut pas s'ouvrir. Cela ne m'arrive-til qu'à moi ? Ceci est un détail qui devrait se régler. Sur le fond, je crois que cet article qui repose sur des bases historiques assez solides n'est pas éligible AdQ, compte-tenu des usages qui se sont récemment développés et qui restreignent le label AdQ à des articles "presque parfaits". Mission impossible pour la "Microscopie électronique à balayage" qui est un domaine tellement vaste, qu'il présentera toujours nécessairement quelques grosses lacunes au niveau de certaines applications et de certains développements récents. J'allais écrire qu'il manquait un article satellite Émission secondaire, mais je viens de voir qu'il en existait un, je vais le rajouter dans le texte, mais cet article est encore très faible. Résume BA, sans doute, AdQ, c'est aller au casse-pipe.--EdC / Contact 11 juin 2007 à 08:56 (CEST)
C'est article est évalué comme Bon Article dans le wikiprojet physique. Si ce n'est pas le cas, autant rendre ça officiel et le proposait comme Bon Article. Quelqu'un ayant travailler sur le sujet et connaissant bien le sujet pourrait-il le proposer ? Pamputt [Discuter] 11 juin 2007 à 10:04 (CEST)
Le problème, c'est qu'il n'y a plus grand-monde qui a l'air de suivre l'article. Avant, il y avait Steff, mais il a l'air de s'en désinteresser pour des raisons que je peux deviner. Et pis y'a moi, mais en ce moment, je ne me sens pas la disponibilité de soutenir convenablement une candidature. Parce que ça ne sert à rien de proposer un label si on n'est pas prêt à effectuer un minimum de modifs demandées par les membres du jury.--EdC / Contact 11 juin 2007 à 22:10 (CEST)
Exact, il y a plus qu'à attendre que quelqu'un de compétent et qui a le temps et le motivation s'intéresse au sujet. Pamputt [Discuter] 13 juin 2007 à 13:27 (CEST)


[modifier] MEB couplé rayons X

Bonjour, Je cherche un principe de MEB couplé rayons X qui soit assez précis, mais sans rentré dans des détails techniques. Auriez vous des informations à me donner? S.V.P Merci

[modifier] Proposition « bon article » (BA)

J'ai l'intention de proposer prochainement la page « Microscopie électronique à balayage » au label « bon article ». Si vous estimez que la procédure est prématurée, vous pouvez me contacter pour me faire part de vos arguments.
Votes précédents : Proposition « Bon article », Proposition « Article de qualité »
EdC / Contact 25 septembre 2007 à 00:38 (CEST)

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[modifier] MEB Mode Cryo ?

Bonjour, je suis tombé sur cet article bien complet, mais il m'est apparu qu'il y avait un manque. En effet, je pense qu'une petite présentation de cette technique basse temperature serait profitable a cet article. L'EBSD étant décrite, je pense que le mode Cryo a sa place. Vos avis?

Bonjour, bien sûr que le mode cryo pourrait avoir une petite place (au chaud) dans cet article. Vous sentez-vous les compétences pour écrire un petit paragraphe ? Il n'est pas nécessaire de s'enregistrer, mais c'est plutôt mieux. Vous bénéficierez ainsi d'une page de discussion perso et les contacts seront plus faciles. --EdC / Contact 7 décembre 2007 à 22:34 (CET)
Bonjour, et bien, oui je pense, il faut surtout que je trouve le temps et que j’apprenne le format d'écriture que je ne connais pas. Le cryo c'est surtout la phase préparatoire des échantillons qui nécessite une description, le reste étant plus lié aux soucis d'artefacts (que je maîtrise moins malheureusement). Pour l'illustration j'ai des photographies personnelles que je fournis bien volontiers. Je regarderais ce soir pour m'enregistrer si j'ai le temps.
Pour écrire, ce n'est pas très compliqué. En regardant la correspondance entre un article et son code en mode éditeur, on atteint vite un niveau honorable, et de toutes façons vous n'aurez pas de mal à trouver un "grand frère" qui vous guidera. Pour les images, ce n'est pas compliqué non plus, mais la difficulté peut quand même être dissuasive pour un débutant. Je pourrais prendre en charge dans un premier temps le chargement d'images dans les "commons" avant que vous ne voliez de vos propres aîles. --EdC / Contact 10 décembre 2007 à 20:08 (CET)
bon je vais m'y mettre doucement

[modifier] Détecteurs Everhart-Thornley et autres remarques

Quelques remarques sur cet article, par ailleurs assez complet et bien fait.

Concernant la colonne pour canon à émission de champs, si la colonne Gemini de Zeiss est un concept très intéressant (optique "à l'infini"), elle n'est de loin pas le représentant typique des MEB equipés de source à émission de champs. Les autres constructeurs utilisent des colonnes plus "classiques" "condenseur-objectif", ou "condenseur -lentille intermédiaire- objectif", etc. La question des cross-over dans la colonne est un peu un faux problèmes, car si, dans les conditions habituelles d'observation en MEB, on calcule la vitesse d'un électron, rapportée à la dimension d'une colonne, on voit qu'il n'y a pas beaucoup plus qu'un électron à la fois à tout instant dans la colonne, donc pas ou peu d'interaction Coulombienne entre électrons. Zeiss met ce point en avant, mais c'est plus un argument commercial qu'un avantage tangible ! Cela n'enlève rien à l'intérêt de cette colonne, qui est plus dans l'utilisation combinée du champs magnétique de l'objectif et du champs électrostatique retardateur/accelerateur du "beam booster". La manière dont la colonne Gémini est présentée laisse penser que c'est LA colonne pour MEB-FEG.

Le deuxième point, plus fondamental, concerne le détecteur Everhart-Thornley et l'imagerie dite en "électrons secondaires".

Il n'est pas judicieux d'appeler ce détecteur "détecteur d'électrons secondaires". Je sais que beaucoup de livres et d'articles utilisent cette appellation un peu historique, mais en fait fausse. Le détecteur E.T. détecte en polarisation positive quasiment toujours un mélange de secondaires et de rétrodiffusés en proportions variables et contrôlables. Les proportions dépendent de l'échantillon, de l'énergie primaire, de la manière dont le détecteur est monté sur le MEB (horizontal ou incliné) et de la distance de travail. Dans Goldstein et al. (ed. 2003, page 128), il est présenté comme : "The electron detector commonly used in SEM is the combined secondary/backscattered electron detector developped by Everhart and Tornley etc".

L'expérience suivante (plus simple à faire sur un vieux MEB, sans PC !) illustre cela :

  1. On prend un échantillon un peu rugueux (fracture d'une roche, d'un métal, etc), à courte distance de travail et à mettons 15 keV. On fait une image à x500 ou x1000, avec un réglage correcte de la mise au point et du contraste/brillance.
  2. On passe à une grande distance de travail, sans toucher au contraste et à la brillance, et on rattrappe la mise au point. On voit que l'image est plus claire et plus contrastée. Pourquoi ? Parce que la géométrie permet une plus grande collection des rétrodiffusés.
  3. On baisse alors l'énergie primaire à 5 keV, voir 3 keV, de nouveau sans toucher au contraste et à la brillance. On rattrappe la mise au point, et de nouveau on voit que l'image s'est éclairée. Pourquoi ? Parce qu'en baissant l'énergie on augmente le rendement d'émission secondaire, et on émet plus de secondaires. (Voir à ce sujet l'article de Seiler H. : Secondary emission in the scanning electron microscope JAP 54, Nov. 1983).

On a ainsi changé à chaque fois la proportion entre les deux types de signaux.

L'effet de relief des images MEB provient bien de la position latérale du détecteur E.T., mais porté par les électrons rétrodiffusés et non les secondaires. Si on supprime les rétrodiffusés (en formant l'image avec le signal d'un spectromètre d'électrons munis d'un collecteur polarisé et calé vers 5-10 eV, sur le pic des secondaires, un montage peu courant !), on aura une images assez plate, par l'absence de l'effet d'ombrage fourni par les rétrodiffusés. Les secondaires sont collectés de "partout", sans que le relief provoque d'ombrages.

On peut dire que dans une image avec le détecteur E.T. les secondaires donnent le détail, la définition de l'image, et les rétrodiffusés le contraste, le relief. En passant en polarisation négative, on voit bien qu'il reste une image alors même qu'on repousse les secondaires. Mais cette image comporte des zones très sombres et sans détails visibles, dans les parties se trouvant "à l'ombre" du détecteur E.T. de par le relief, d'où on collecterait des secondaires en polarisation positive.

L'aspect de l'imagerie en électrons secondaires abordé plus loin prête du coup à confusion, d'autant plus que depuis une dizaine d'année, il y a de plus en plus de MEB équipés de détecteur "dans l'objectif" (avec des appellations différentes selon les constructeurs), qui eux ne détectent effectivement QUE des secondaires (plus ou moins bien !), dont c'est la vocation et qui s'appellent à juste titre "détecteur d'électons secondaires". Ce n'est pas juste pour une question de place qu'on met ces détecteurs, comme le dit aussi le paragraphe sur la colonne Gemini. L'image qu'ils donnent est bien différentes de l'image fournie par le détecteur E.T. en polarisation positive : aplatissement du relief (collection par au dessus), grand gain en résolution, particulièrement à basse énergie primaire (la poire de diffusion devient du même ordre de grandeur que la profondeur d'échappement des secondaires) permettant des grandissements jusqu'à x300.000 à x600.000, mais aussi plus grande sensibilité à la charge de surface sur des isolants. Des avantages et des inconvénient !

Enfin, il me semble que trois points complèteraient bien l'article :

  1. Il serait bien d'introduire la poire de diffusion en début de la partie interaction électrons-matière, avant la description des différents rayonnements émis, avec une illustrations du style Goldstein 1981, page 69 (fct de Z et énergie primaire), qu'on peut générer à l'aide du programme de Monte Carlo "Casino". Ceci permet de donner dans la suite des indications sur le volume concerné (et donc la résolution spatiale limite qui en découle) pour chaque rayonnement.
  2. Concernant l'échantillon, il serait bon de donner en premier les contraintes générales que sont la tenue au vide (sauf MEB à vide contrôlé), la conduction électrique (sauf basse tension et MEB à vide contrôlé de nouveau), et la tenue au faisceau d'électron (transfert d'énergie, transformations, fusion, contamination). A partir de là on peut alors détailler plus ou moins les familles d'échantillons et les préparations qui en découlent. Concernant la métallisation, il faut signaler qu'en MEB haute résolution, la métallisation peut cacher les détails fins et être plus une source de problèmes qu'un gain !
  3. Dans l'inventaire des types d'imageries (EDS/WDS, EBIC, EBSD, etc.), il conviendrait pour être complet d'ajouter la cathodoluminescence (CLS).

--130.79.152.3 (d) 25 février 2008 à 17:52 (CET) jcqs67

Je me suis permis de remettre votre contribution dans l'ordre chronologique. Merci, en tous cas pour cette lecture attentive et perspicace et les remarques qui en résultent et qui sont une bonne base pour l'amélioration de l'article. Toute modification qui irait dans votre sens aurait ma bénédiction. Reste à trouver quelqu'un qui ait le minimum de disponibilité pour mener à bien ces modifications. Même si vous vous montrerz très raisonnable dans vos suggestions, elles nécessitent quant même de générer des images, de trouver les références etc... Bref, moi perso, pas avoir le temps maintenant. Si quelqu'un d'autre volontaire, moi le soutenir moralement et peut-être plus.--EdC / Contact 27 février 2008 à 14:40 (CET)
si ça peux vous être utile, je vous donne volontier les images suivantes ([2] mais également ça [3]) c'est en png là mais je peux fournir le svg correspondant
Merci pour ces poires ! Pour qu'on puisse les enregistrer dans les Commons, je crois qu'il faut pouvoir garantir qu'elles sont du domaine publique ou que leur auteur en permet l'utilisation soit sans condition, soit à condition d'indiquer l'auteur. --EdC / Contact 27 février 2008 à 18:19 (CET)


[modifier] ESEM

“Intégration de l'ESEM sur un mode moins publicitaire” n'est pas science. en:ESEM est science. “Publicitaire et democracie” ou science de la microscopie?

 Excusé moi, c'est non-problème!  OK.  Merci. (attention: en:ESEM)