Optique des particules chargées

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L'optique des particules chargées est l'ensemble des techniques destinées à dévier un faisceau électronique ou ionique. Le terme « optique » renvoit à l'analogie entre un rayon électronique et un rayon lumineux, avec notamment la notion de focalisation de faisceau et de lentille.

On distingue l'optique électronique, qui concerne les faisceaux d'électrons, et l'optique ionique qui concerne les faisceaux d'ions.

Sommaire

[modifier] Pertinence de l'analogie

Selon le principe quantique de la dualité onde-particule, une particule en mouvement — électron ou ion — peut être décrite par une fonction d'onde, et a notamment une longueur d'onde associée : la longueur d'onde de Broglie.

[modifier] Dispositifs

La notion de faisceau de particules oblige à travailler sous vide. Elle utilise les lois de l'électromagnétisme, et en particulier la possibilité de dévier un courant électrique par un champ magnétique, ainsi que la possibilité d'attirer ou de repousser une charge électrique par électrostatique.

L'optique des particules chargées utilise des lentilles magnétiques et électrostatiques, ainsi que des déflectrons (l'équivalent du miroir en optique lumineuse).

[modifier] Applications

[modifier] Voir aussi

[modifier] Bibliographie

  • P. Grivet, M. Y. Bernard, A. L. Septier, Electron optics, éd. Pergamon press, 1972, (ISBN 0-0801-6226-6)
  • E. Harting, F. W. Read, J. N. H. Brunt, Electrostatic lenses, éd. Elsevier, 1976, (ISBN 978-0-4444-1319-2)
  • H. Wollnik, Optics of charged particles, éd. Orlando Academic, 1987, (ISBN 0-1276-2130-X)
  • P. W. Hawkes, E. Kasper, Principles of electron optics, éd. Academic press, 1989, (ISBN 978-0-1233-3343-8)
  • J. Orloff (éditeur), Handbook of charged particle optics, ouvrage collectif, éd. CRC Press, 1997, (ISBN 978-0-8493-2513-7)

[modifier] Articles connexes