Image:JEOL JSM-6340F.jpg
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Historique du fichier
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Date et heure | Dimensions | Utilisateur | Commentaire | |
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actuel | 28 janvier 2006 à 14:02 | 1 567×2 103 (607 Kio) | Steff | (Scanning electron microscope JEOL JSM-6340F, picture taken by fr:Steff at the University of Cambridge, United-Kingdom on the 05/12/2005. {{GFDL}} {{CC-BY-SA}} Category:Scanning electron microscope) |
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Métadonnées
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Fabricant de l’appareil | FUJIFILM |
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Modèle de l’appareil | FinePix F700 |
Temps d’exposition | 1/60 sec (0.016666666666667) |
Ouverture | f/3.2 |
Date de la prise originelle | 5 décembre 2005 à 20:28 |
Longueur focale | 9.5 mm |
Orientation | Normale |
Résolution horizontale | 72 dpi |
Résolution verticale | 72 dpi |
Logiciel utilisé | ACD Systems Digital Imaging |
Date de modification | 6 décembre 2005 à 19:16 |
Positionnement YCbCr | 1 |
Programme d’exposition | Programme normal |
Sensibilité ISO | 800 |
Version EXIF | 2.2 |
Date de la numérisation | 5 décembre 2005 à 20:28 |
Mode de compression de l’image | 2 |
Vitesse d’obturation | 6 |
Ouverture | 3.4 |
Correction d’exposition | 0 |
Ouverture maximale | 3 |
Mode de mesure | Modèle |
Source de lumière | Inconnue |
Flash | 9 |
Date de modification | 343 |
Espace colorimétrique | sRGB |
Résolution horizontale du plan focal | 3704 |
Résolution verticale du plan focal | 3704 |
Unité de résolution du plan focal | 3 |
Type de capteur | Capteur de couleur à une puce |
Rendu personnalisé | Procédé normal |
Mode d’exposition | Automatique |
Balance des blancs | Automatique |
Type de capture de la scène | Standard |
Netteté | 3 |
Distance du sujet | Inconnue |